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氧化鋯氧分析儀探頭老化原因和症狀

更新時間:2019-03-21點擊次數:1857

氧化鋯氧分析儀(yi) 探頭老化原因和症狀

   氧化鋯氧分析儀(yi) 探頭老化原因和症狀,探頭老化是指氧化鋯測氧電池的老化,主要表現在內(nei) 阻升高和本底電勢增大兩(liang) 個(ge) 參數上。

   (1)內(nei) 阻升高

實際使用中,多見內(nei) 阻增大引起探頭老化。內(nei) 阻是指信號線兩(liang) 端間的輸入電阻,它是引線電阻、電極與(yu) 氧化鋯間界麵電阻及氧化鋯體(ti) 積電阻三部分之和,因此電極揮發、電極脫落和氧化鋯電解質的反穩(由穩定氧鋯變為(wei) 不穩定氧化鋯),都將引起內(nei) 阻升高。測量探頭內(nei) 阻,可以判斷其老化情況。根據使用經驗,當內(nei) 阻增大到接近其使用極*,將出現信號大跳動的現象,有些探頭還會(hui) 出現響應遲緩的現象。對於(yu) 這些探頭,本底電勢不一定很大。

   (2)本底電勢增大

本底電勢是電池附加電勢。引起本底電勢增大的因素有兩(liang) 類:一永存因素,它寄生在電池上,如SO2和SO3的腐蝕作用、電池不對稱等因素;另一類屬暫存因素,如電極積灰、空氣對流差等因素,一旦條件改善,本底電勢便可降低。

    探頭使用過程中本底電勢變大往往反映該探頭的老化情況,當Eo值超過儀(yi) 器的大調節量時,說明探頭已損壞。例如,某氧化鋯探頭,出廠時Eo約為(wei) -5mV,其允許變化範圈為(wei) 0~- 30mV,使用半年後變為(wei) 一13mV,使用18個(ge) 月後變為(wei) 一29mV,此情況說明,該探頭已經老化,需要更換。此處應當注意,有些探頭的老化反映在本底電勢變大上,有些探頭的老化並不反映在這一點上,當本底電勢變大的原因是由暫存因素引起時,隨著探頭使用時間的延續,可能出現本底電勢先變大再變小的情況。

    由於(yu) 本底電勢增大麵導致探頭老化的數量比內(nei) 阻增大的數量要少。如果僅(jin) 是本底電勢增

大,信號不會(hui) 出現大跳動現象。 

 

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